【雷尼紹測頭】三坐標測頭

1、手動測座

一系列固定的及手動可轉位測座，用于連接觸發式測頭和機器軸套，可靈活地對復雜部件進行檢測。

MH20i：適用于TP20測針模塊的可重復定位測座；

MH20：適用于TP20測針模塊的定位測座；

MH8：適用于M8螺紋固定測頭的可重復定位測座；

MIH(S)：具有內置LCD位置顯示器的可重復定位測座；

PH1：具有偏置測頭底座的定位測座；

PH5/1：具有五個測頭插槽和B軸轉位的固定式測座；

PH5：具有五個測頭插槽的固定式測座；

PH6：具有一個測頭插槽的固定式測座；

PH6M：具有自動鉸接的固定式測座。

2、機動和自動測座

機動可重復定位測座可將測頭放置在720個位置中的一個，所以可以在多個角度下進行測量。測座的這種重復性使這些位置可以重新調用，無需重新標定，節省了操作時間，并能夠在較合適的角度上使用測頭，達到較**的結果。

PH10機動可重復定位測座：可重復定位測座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有軸套式安裝和測頭式安裝兩種選項

3、伺服測座

機動伺服測座提供無限制的角度位置，適合水平測量臂坐標測量機。

4、觸發式測頭

觸發式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。

Renishaw提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。

TP20測頭：具有模塊交換功能的緊湊型機械式測頭；

TP200測頭：具有模塊交換功能的緊湊型應變片式測頭；

TP6(A)測頭：具有M8和自動鉸接固定選項的堅固機械式測頭；

TP7M測頭：具有自動鉸接的應變片式測頭；

OTP6M測頭：用于檢測軟材料的光學觸發式測頭；

TP2/TP1S(M)測頭：傳統觸發式測頭。

5、掃描測頭

掃描測頭是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。

SP25M測頭：具有掃描和觸發式模塊的25 mm直徑掃描測頭；

SP600測頭：**檢測、數字化和輪廓掃描；

SP80測頭：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供的性能。

掃描原理

掃描測量提供了從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。

觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可**大量的表面數據，提供*詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。Renishaw掃描測頭*具特色的輕巧無源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的變形量，以獲得*高的精度和*快的動態響應。